Existe um conjunto de experiências em todo o mundo que usam xenon líquido como meio detector. Neste conjunto estão incluídas experiências que procuram sinais do decaimento do muão com violação do número leptónico, da matéria escura, ou do decaimento beta duplo. Embora as gamas de energia de interesse para estas experiências sejam diferentes, elas têm muito em comum do ponto de vista da detecção. As actividades do nosso grupo centram-se nos processos desencadeados pela interacção de partículas com o xénon líquido e nas tecnologias associadas, com o objectivo de contribuir para o desenvolvimento de detectores de xénon líquido da próxima geração. O âmbito de nossas atividades engloba todos os processos electrónicos, ópticos e moleculares gerados num detector de xénon líquido devido a interacções de partículas no meio.
Nos próximos anos, o nosso trabalho centrar-se-á no estudo de sinais satélites em TPCs de xénon líquido de dupla fase com electroluminescência no âmbito do projecto de participação na Colaboração RD51 no CERN.
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Stability of tetraphenyl butadiene thin films in liquid xenon.
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Autor(es): P. Sanguino, F. Balau, A.M. Botelho de Rego, A. Pereira, V. Chepel
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Submissão: 2015-08-08, Aceitação: 2016-01-04, Publicação: 2016-01-06
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Referência: Thin Solid Films 600 (2016) 65-70.
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Liquid noble gas detectors for low energy particle physics
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Autor(es): V. Chepel and H. Araujo
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Submissão: 2012-06-15, Publicação: 2013-04-04
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Referência: JINST 8 (2013) R04001
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Reflectance of polytetrafluoroethylene (PTFE) for Xenon Scintillation Light
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Autor(es): C. Silva, J. Pinto da Cunha, A. Pereira, V. Chepel, M. I. Lopes, V. Solovov
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Submissão: 2009-08-04, Aceitação: 2010-01-19, Publicação: 2010-03-17
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Referência: J. Appl. Phys. 107, 064902 (2010)
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Reflection of the Xenon Scintillation Light from Polytetrafluoroethylene (PTFE)
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Autor(es): C. Silva, J. P. da Cunha, A. Pereira, V. Chepel, M. I. Lopes, V. Solovov
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Submissão: 2009-12-31, Aceitação: 2009-12-31, Publicação: 2009-12-31
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Referência: 2008 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM AND MEDICAL IMAGING CONFERENCE (2008 NSS/MIC), VOLS 1-9, ISSN 1082-3654, 528 (2009)




